安森美携前沿智能感知技术亮相Vision China，机器视觉黑科技备受瞩目

2025年3月26日——Vision China 2025机器视觉展在上海新国际博览中心盛大开幕，吸引了全球工业自动化、人工智能及机器视觉领域的顶尖企业参展。

智能电源与智能感知技术领域的领军企业安森美（onsemi）携新款图像感知技术及方案亮相展会，其中新款SWIR 短波红外方案和1亿分辨率的图像传感器备受瞩目。

安森美此次重点展示了多款面向工业自动化与机器视觉的智能感知方案，旨在驱动工业自动化、机器人、智能家居、AR/VR及物联网等前沿应用加速发展。其展出的核心技术包括：

安森美的SWIR 方案采用CQD量子点技术，具有成本优势，光谱灵敏度除了支持常规的SWIR波段(400nm – 1700nm)，还支持扩展的eSWIR波段(400nm – 2100nm)。短波红外检测技术可在监控系统、硅片检测、半导体检测等工业机器视觉应用领域发挥至关重要的作用。

该方案提供1亿分辨率，其2.74μm BSI 背照式像素设计减少了光损，配合16 通道SLVS-EC 传输协议（单通道5Gbps），实现了高速数据传输。该产品支持64 个ROI区域，为多场景工业检测如半导体检测、液晶面板检测，以及天文、科研等应用带来更高效的检测效果。

该方案基于安森美首款iToF传感器HyperluxTM ID，可对快速移动物体进行高精度长距离测量和三维成像，突破性实现达30米的深度感知， 940nm时QE>40%，完美适配多元场景，助力机器人做出更精准的路径决策，还可用于三维建模以及实现盲区互补，成为提升复杂工业环境下生产效率和作业安全的关键。同时，该方案还可应用于面部识别、手势检测及3D视讯会议场景。

该方案基于HyperluxTMLP系列的2000万分辨率传感器AR2020，具有智能感兴趣区域(Smart ROI)功能，大幅减少SoC或ISP后端的处理负担。以极低的功耗提供更佳带宽，助力智能相机实现高效AI检测。

该方案采用HyperluxTM SG系列的200万分辨率全局快门传感器AR0235，相较传统方案显著提升成像清晰度和运动伪影效果，确保高速扫描场景下仍能精准识别条码信息。

当谈到安森美是如何看待Deepseek或者是AI大模型跟智能传感器的结合时，安森美发言人表示，因为Deepseek等AI大模型在数据采集过程需要使用智能传感器提高数据准确性，这对于安森美而言是一个很大的发展空间。Deepseek最大的贡献在于把大模型从后端大算力移到了前端，从而应用更广泛，也使得更小的算力就能产生更多的数据。而在这个数据采集的简化的过程中，其就需要更智能的感光器，以此使数据结果更准确。他反馈，image sensor在AI大模型跟智能传感器方面均有着较大潜力。

总体而言，Vision China 2025不仅是一场技术盛宴，更展现了机器视觉与人工智能深度融合为工业领域带来的变革力量。作为智能感知技术的引领者，安森美通过其创新的图像感知解决方案，重新定义工业自动化的可能性。从精密检测到自主决策，从高效生产到智能协作，这些技术突破正在推动制造业向更智能、更安全、更可持续的方向发展。

未来，随着工业4.0的深入演进和AI技术的持续突破，机器视觉将在智能制造中扮演更加关键的角色。安森美凭借其深厚的技术积累和前瞻布局，有望继续引领这一变革浪潮，为全球工业数字化转型提供核心技术支持，与行业伙伴共同开创智能制造的崭新未来。

️（文/集邦化合物半导体整理）

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